原標題：iPhone 6 Plus存新質量問題 恐大規模召回

　　iPhone 6 Plus存(cun)在質量上的(de)問題，其會頻繁死機，可能是使用的(de)TLC NAND存(cun)儲(chu)器控制IC的(de)問題。

　　本(ben)身供應就(jiu)不多iPhone 6 Plus接(jie)連爆出問(wen)題，這次又有新的(de)事情發生。

　　臺媒、韓國給出的最(zui)新(xin)報道稱，iPhone 6 Plus存在質量上的問題(ti)，其會頻(pin)繁死機，可能是使用(yong)的TLC NAND存儲器控制(zhi)IC的問題(ti)。

　　報道中強調，蘋果為了(le)節省成(cheng)本，使(shi)用了(le)TLC NAND存(cun)(cun)儲器控制，雖然存(cun)(cun)容量更多，但是讀取/寫(xie)入的速度比較慢。

　　之前已經(jing)有不少果(guo)粉(fen)在蘋果(guo)的(de)官方論壇表示，自(zi)己的(de)iPhone 6 Plus送修多(duo)次(ci)，最夸張的(de)一(yi)位送修了4次(ci)依然沒有解決問題。業內人士指(zhi)出，這很可能是iPhone內部(bu)NAND Flash控制的(de)IC品(pin)質瑕疵(ci)所導致。

　　如(ru)果這是真的，那(nei)么蘋(pin)果或將因此宣布大規(gui)模召回。